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快恢復(fù)MOSFET CMD60R180S6ZD

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快恢復(fù)MOSFET CMD60R180S6ZD

>>CMD60R180S6ZD詳情頁(yè)面

隨著電力電子技術(shù)的飛速發(fā)展,分立半導(dǎo)體元器件根據(jù)實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景也不斷衍生新型功能,這些具有新型功能的元器件將會(huì)更好的提高設(shè)備使用的安全性和穩(wěn)定性。


CMD60R180S6ZD是采用Cmos先進(jìn)的超級(jí)結(jié)工藝開(kāi)發(fā)的一款N溝道功率場(chǎng)效應(yīng)管(MOSFET),其特點(diǎn)具有高頻特性好,反向快恢復(fù)時(shí)間短,并且具有HBM>2kV的靜電或浪涌防護(hù)能力等。符合汽車(chē)電子、醫(yī)療設(shè)備、通訊設(shè)備以及戶(hù)外高置設(shè)備等這些穩(wěn)定性高和要求長(zhǎng)期可靠性的領(lǐng)域應(yīng)用。


下圖是CMD60R180S6ZD封裝形式和內(nèi)部拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)圖。采用TO-2525和TO-251兩種常規(guī)封裝形式,其他封裝形式可以接受定制。



二、基礎(chǔ)參數(shù)



1.   漏源電壓(VDS):600V

2.   連續(xù)漏極電流(ID@Tc=25℃):20A(需結(jié)合散熱條件) 

3.   導(dǎo)通電阻RDS(on):0.16Ω(典型值) 

4.   柵源閾值電壓VGS(th):4.5V(最大值) 


三、核心優(yōu)勢(shì)

CMD60R180S6ZD具有明顯的以下適配性?xún)?yōu)勢(shì)。

快恢復(fù)特性,漏源之間封裝有快恢復(fù)二極管,使得在橋式拓?fù)涞菷ET組合結(jié)構(gòu)中的換相切換變得更快,表現(xiàn)出更高的魯棒性。

高頻性,對(duì)極間封裝電容的精準(zhǔn)控制,使得MOSFET在更短的時(shí)間內(nèi)即可完成動(dòng)態(tài)與靜態(tài)切換工作。

高效率,理想的優(yōu)值系數(shù)FOM = QG×RDS(on),靜態(tài)或穩(wěn)態(tài)時(shí)表現(xiàn)出較高的電能轉(zhuǎn)換效率。

ESD防靜電能力,柵源之間封裝穩(wěn)壓(齊納)二極管,具備HBM(Human Body Mode)>2KV安全標(biāo)準(zhǔn),更好地滿(mǎn)足醫(yī)療類(lèi),戶(hù)外高置類(lèi)應(yīng)用場(chǎng)景。


四、應(yīng)用推薦及關(guān)鍵設(shè)計(jì)

CMD60R180S6ZD有著上述諸多優(yōu)秀的特性,這些綜合優(yōu)勢(shì)使其在實(shí)際應(yīng)用中表現(xiàn)出良好的穩(wěn)定性,以下是推薦使用場(chǎng)景。

MOSFET在PFC電路中的應(yīng)用分析

在PFC電路中,MOSFET作為高頻開(kāi)關(guān)的核心器件,其性能直接影響效率、溫升和可靠性。以下是關(guān)鍵設(shè)計(jì)要點(diǎn):



1.典型應(yīng)用場(chǎng)景 

   Boost PFC拓?fù)洌篗OSFET作為主開(kāi)關(guān),控制電感充放電(如圖所示)。 

工作過(guò)程: 

導(dǎo)通階段:MOSFET導(dǎo)通,電感儲(chǔ)能,二極管截止。 

關(guān)斷階段:MOSFET關(guān)斷,電感釋放能量,通過(guò)二極管向輸出電容充電。 


2.MOSFET選型關(guān)鍵參數(shù)

   電壓應(yīng)力: 

MOSFET耐壓需高于輸出電壓峰值。例如,220V交流輸入時(shí),Boost輸出電壓通常為380-400V DC,需選擇500V以上MOSFET(如CMD60R180S6ZD)。 

   電流能力: 

電感峰值電流計(jì)算公示值略。

     選擇額定電流為計(jì)算值1.5倍以上的器件(如30A器件用于20A峰值場(chǎng)景)。 

   導(dǎo)通電阻(RDS(on)): 

     直接影響導(dǎo)通損耗,需在成本和效率間平衡。例如,600V/20A MOSFET的RDS(on)通常為0.1-0.3Ω。 

   開(kāi)關(guān)速度: 

     快速開(kāi)關(guān)(如10-30ns級(jí))可降低開(kāi)關(guān)損耗,但需優(yōu)化驅(qū)動(dòng)電路以避免電壓尖峰。 


3.損耗分析與優(yōu)化 

   導(dǎo)通損耗: 

     P = I(RMS)^2 * RDS(on)

   開(kāi)關(guān)損耗: 

     P(sw) = 1/2 VDS*ID * (tr+tf) * f(sw)

   優(yōu)化措施: 

     使用軟開(kāi)關(guān)技術(shù)(如ZVS/ZCS)降低開(kāi)關(guān)損耗。 

     選擇低Qg(柵極電荷)MOSFET以減少驅(qū)動(dòng)損耗(如Infineon IPA65R190E6)。 


4.驅(qū)動(dòng)與保護(hù)設(shè)計(jì) 

   驅(qū)動(dòng)電路: 

     采用專(zhuān)用驅(qū)動(dòng)器(如TI UCC27524),確保快速開(kāi)通/關(guān)斷,并避免米勒效應(yīng)導(dǎo)致的誤導(dǎo)通。 

     驅(qū)動(dòng)電阻(Rg)需匹配開(kāi)關(guān)速度和EMI要求,典型值為10Ω~100Ω。 

   保護(hù)機(jī)制: 

     過(guò)壓保護(hù):通過(guò)箝位二極管或TVS保護(hù)MOSFET的VDS。 

     過(guò)流保護(hù):檢測(cè)漏極電流(如使用分流電阻或霍爾傳感器),觸發(fā)關(guān)斷。 


5.散熱設(shè)計(jì)實(shí)例 

   例如:某1kW PFC電路,MOSFET總損耗為15W,選用TO-247封裝,需安裝散熱器并將結(jié)溫控制在125℃以下。 

   計(jì)算熱阻: 

                                             

 需選擇熱阻≤3℃/W的散熱器(如加裝強(qiáng)制風(fēng)冷)。


總結(jié)

CMD60R180S6ZD是一款安全性突出綜合性能強(qiáng)大的MOSFET,具有高效率,快恢復(fù)性,優(yōu)秀的靜電防護(hù)能力及高性?xún)r(jià)比等綜合優(yōu)勢(shì),在高頻逆變器、PFC電路、LLC高功率電路中適配性很高。


技術(shù)支持與資源獲取

更多型號(hào)資料請(qǐng)聯(lián)系在線(xiàn)客服或登錄Cmos官網(wǎng)www.turkeyworld.net,可索取樣品和報(bào)價(jià)以及提供相關(guān)技術(shù)支持服務(wù)。



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